Probador Digital Portátil M-2 de Cuatro Sondas
El instrumento tiene las características de alta precisión de medición, alta sensibilidad, buena estabilidad, alta inteligencia, estructura compacta y fácil uso.
El instrumento es adecuado para probar las propiedades conductoras de conductores, semiconductores y materiales similares a semiconductores en fábricas de materiales semiconductores, fábricas de dispositivos, instituciones de investigación científica y colegios y universidades.
El probador portátil digital de cuatro puntas M-2 es un instrumento de medición integral multiusos que utiliza el principio de medición de cuatro puntas para probar resistividad/resistencia de hoja. El diseño del instrumento cumple con el estándar nacional del método de prueba física de silicio monocristalino y se refiere al estándar estadounidense ASTM.
Composición del conjunto de instrumentos:Consta de dos partes: la unidad principal y la sonda opcional de cuatro puntas, y también se puede equipar con un banco de pruebas.
La unidad principal se compone principalmente de una fuente de corriente constante digital, un ADC de alta resolución y un sistema microcomputador de un solo chip integrado, que puede cambiar automáticamente el rango. Todos los ajustes de parámetros y las conversiones de funciones del instrumento se introducen mediante un mando; tiene una función de autocalibración de punto cero y escala completa; puede cambiar automáticamente el rango; y los resultados de la prueba se muestran directamente mediante el medidor digital. ¡Este probador funciona con una batería recargable y es adecuado para la operación manual en ocasiones cambiantes!
Opciones de sonda:Hay muchas sondas opcionales según las necesidades de las diferentes características del material. Existen sondas de carburo de tungsteno de alta resistencia al desgaste para probar la resistividad/resistencia cuadrada de materiales duros como semiconductores de silicio, metales y plásticos conductores; también hay sondas esféricas de aleación de cobre bañadas en oro para medir la resistividad/resistencia cuadrada de materiales semiconductores como películas conductoras flexibles, recubrimientos o películas metálicas, películas conductoras (películas de ITO) sobre sustratos como cerámica o vidrio, o nanorrecubrimientos. Al reemplazar el accesorio de prueba de cuatro terminales, también se puede medir la resistencia del cuerpo de las resistencias, la resistencia baja y media de los conductores metálicos y la resistencia de contacto de los interruptores. Con una sonda especial, también se puede probar la resistividad y la resistencia cuadrada de recubrimientos sobre láminas como los polos de la batería.
1. Rango de medición y resolución
Resistencia: 0.010～ 9999Ω, resolución 0.001 ～ 1 Ω
Resistividad: 0.010～ 2000Ω-cm, resolución 0.001～ 1 Ω-cm
Resistencia de lámina: 0.050～ 2000Ω/□ Resolución 0.001～ 1 Ω/□
2. Tamaño del material
El método manual no está limitado por el tamaño del material, pero el banco de pruebas adicional está determinado por el banco de pruebas y el método de prueba seleccionados.
Diámetro: Banco de pruebas redondo SZT-A método de prueba directa Φ15~130mm.
Banco de pruebas cuadrado SZT-C modo de prueba directa 180mm×180mm.
Longitud (altura): Método de prueba directa del banco de pruebas H ≤ 100 mm. .
Dirección de medición: axial y radial.
3. División de rango y nivel de error
| Rango de medición (Ω-cm/□） | 9.999 | 99.99 | 999.9 | 9999. |
| Rango de prueba de resistencia | 0.010～9.999 | 9,99～99.99 | 99.99～999.9 | 999.9～9999 |
| Resistividad/resistencia cuadrada | 0.010/0.050～9.999 | 9,99～99.99 | 99.99～999.9 | 999.9～2000 |
| error básico | ±1 %FSB ±2LSB | ±2 %FSB ±2LSB |
4) Potencia de funcionamiento del adaptador: 220 V ± 10 %, f = 50 Hz ± 4 %, P ≤ 5 W o alimentación por batería.
5) Dimensiones: A×A×L=18cm×7.5cm×13cm
Peso neto: ≤0.5kg
M-2Diagrama de conjunto completo
fósforoST2253-F01Medición de la resistividad de obleas de silicio
fósforoST2558B-F01Medición de la resistencia cuadrada de película delgada
La sonda de cuatro puntas es un método de cuatro puntas para probar la resistividad/La sonda es un componente clave del sistema de prueba de resistencia cuadrada. La sonda contacta la muestra con la presión adecuada y matriz de puntos a través de cuatro puntas. Después de conectar el instrumento de cuatro puntas, se realizan la carga de corriente y el muestreo de voltaje del método de cuatro puntas. Se deben considerar las propiedades físicas de la muestra, como si es sólida o polvo, si es un material duro como una oblea de silicio general, metal o una película flexible, recubrimiento,OITLa presión y la forma de matriz de puntos de la sonda y el modelo se seleccionan en función del material de la membrana, ya sea un material de capa conductora única o una capa conductora compuesta, el tamaño de la muestra y otras condiciones.
Tabla de referencia para la selección de características de especificación del modelo de sonda de cuatro sondas
número de serie | modelo | nombre | Imagen destacada | Presupuesto | Ocasiones de selección |
1 | ST2253-F01 | Aguja de tungsteno Sonda Lineal de Cuatro Puntas |
| Cuatro Puntas Lineales Tono:1+1+1， Sonda: Aguja de carburo de tungsteno | Prueba de resistividad/resistencia cuadrada de obleas de silicio, metales y otros materiales duros |
2 | ST2558A-F01 | Resistencia cuadrada de la célula fotovoltaica Sonda Lineal de Cuatro Puntas | 
| Cuatro Puntas Lineales Longitud de la aguja: 2+2+2, Sonda: Punta larga de acero | Prueba de resistencia de lámina de celda fotovoltaica de material de silicio |
3 | ST2558A-F02 | Resistencia cuadrada de película delgada Banco de pruebas tipo cuchillo | 
| Banco de pruebas tipo cuchillo Distancia entre cuchillas 100, Ancho de la hoja 100 | Prueba de resistencia cuadrada de película flexible, película de recubrimiento metálico |
4 | ST2558B-F01 | Resistencia cuadrada de película delgada Sonda Lineal de Cuatro Puntas | 
| Cuatro Puntas Lineales Longitud de la aguja: 2+2+2, Sonda: Punta de aguja hemisférica de bronce fosforoso chapada en oro | Película flexible, película de recubrimiento metálico, prueba de resistividad/resistencia cuadrada de película ITO |
5 | ST2558B-F02 | Resistividad del recubrimiento sobre lámina Sonda de cuatro terminales | 
| Longitud de la aguja 8, Diámetro 4 Sonda: Cara extrema plana cilíndrica | Prueba de resistividad/resistencia cuadrada de recubrimiento sobre lámina |
6 | ST2558B-F03 | Resistencia cuadrada de película delgada Sonda Lineal de Cuatro Puntas | 
| Cuatro Puntas Lineales Longitud de aguja 1+1+1, Sonda: Punta de aguja hemisférica de bronce fosforoso chapada en oro | Película flexible, película de recubrimiento metálico, prueba de resistividad/resistencia cuadrada de película ITO |
7 | ST2571A-F01 | Resistencia cuadrada de película delgada Sonda Rectangular de Cuatro Puntas | | Rectangular Cuatro Puntas Distancia de aguja 1X1 Sonda: Aguja de carburo de tungsteno | Medidor de resistividad y resistencia cuadrada de obleas de silicio |
8 | ST2571A-F02 | Resistencia cuadrada de película delgada Sonda Rectangular de Cuatro Puntas | 
| Rectangular Cuatro Puntas Distancia de aguja 1X1 Sonda: Punta de aguja hemisférica de bronce fosforoso chapada en oro | Película flexible, película de recubrimiento metálico, prueba de resistividad/resistencia cuadrada de película ITO |
9 | ST2571A-F03 | Resistencia cuadrada de película delgada Sonda Rectangular de Cuatro Puntas | 
| Rectangular Cuatro Puntas Espaciamiento de agujas 2X2 Sonda: Punta de aguja hemisférica de bronce fosforoso chapada en oro | Película flexible, película de recubrimiento metálico, prueba de resistividad/resistencia cuadrada de película ITO |
