Comprobador rápido de conductividad térmicaBXT-DRS

1. Introducción del producto
BXT-DRSComprobador rápido de conductividad térmicaUtiliza tecnología de fuente de calor planar transitoria (El comprobador de conductividad térmica desarrollado por TPS permite comprobar la conductividad térmica de diversos tipos de materiales. El método de fuente de calor transitoria plana es uno de los métodos para estudiar la conductividad térmica, lo que ha llevado la tecnología de medición a un nuevo nivel. Permite medir la conductividad térmica de forma rápida y precisa al estudiar materiales, lo que facilita enormemente el control de calidad empresarial, la producción de materiales y la investigación de laboratorio. El instrumento es fácil de usar, el método es simple y fácil de entender, y no daña la muestra analizada.
2. Características principales
1. Rápido y preciso: la prueba se puede completar en 5-160 segundos.
2. Pruebas no destructivas: la muestra no se daña y puede reutilizarse.
3. Preparación sencilla de la muestra: no hay requisitos especiales para el tamaño de la muestra.
4. Amplia gama de objetos de prueba: puede probar sólidos en bloque, sólidos granulares, líquidos, polvos, coloides, pastas.
5. Alta flexibilidad: portamuestras independiente, sonda desmontable, prueba flexible
6. Interfaz fácil de usar, fácil de operar: pantalla táctil LCD, fácil de operar, simple y fácil de entender.
Ventajas:
1、Normas de referencia de instrumentos:ISO 22007-2 2008
2、El rango de prueba es amplio y el rendimiento de la prueba es estable, lo que lo sitúa en el nivel más alto entre los instrumentos similares en China.
3、Medición directa, tiempo de pruebaSe puede configurar de 5 a 160 segundos, lo que puede medir de forma rápida y precisa la conductividad térmica, ahorrando mucho tiempo;
4、No se ve afectado por la resistencia térmica de contacto como el método estático;
5、No se requiere ninguna preparación especial de la muestra ni requisitos específicos en cuanto a su forma. El sólido a granel solo necesita una superficie relativamente lisa y una longitud y anchura al menos el doble del diámetro de la sonda.
6、Las pruebas no destructivas de muestras significan que las muestras pueden reutilizarse;
7、La sonda está diseñada con una estructura de doble hélice, combinada con un modelo matemático dedicado, y utiliza un algoritmo central para analizar y calcular los datos recopilados en la sonda;
8、La mesa de muestras tiene un ingenioso diseño estructural y es fácil de usar. Es ideal para colocar muestras de diferentes espesores y es simple y elegante.
9、La adquisición de datos en la sonda utiliza chips de adquisición de datos importados, la alta resolución del chip puede hacer que los resultados de la prueba sean más precisos y confiables;
10、El sistema de control del host utilizaEl microprocesador ARM tiene una velocidad de cálculo más rápida que los microprocesadores tradicionales, lo que mejora las capacidades de procesamiento analítico del sistema y hace que los resultados de los cálculos sean más precisos;
11、El instrumento se puede utilizar para medir los parámetros físicos térmicos de sólidos en bloque, sólidos en pasta, sólidos granulares, coloides, líquidos, polvos, recubrimientos, películas, materiales de aislamiento térmico, etc.
12、Interfaz hombre-máquina inteligente, pantalla LCD a color, control de pantalla táctil, operación fácil y sencilla;
13、Potentes capacidades de procesamiento de datos. Sistema altamente automatizado de comunicación de datos y procesamiento de informes.
Objeto de prueba:
Metales, cerámicas, aleaciones, minerales, polímeros, materiales compuestos, papel, tejidos, plásticos espumados (materiales aislantes de superficie lisa, tableros), lana mineral, paredes de cemento, paneles compuestos reforzados con vidrio.Los objetos de prueba son de amplio espectro, incluidos CRC, tableros de poliestireno de cemento, hormigón sándwich, tableros compuestos de paneles de FRP, tableros de nido de abeja de papel, coloides, líquidos, polvos, granulados y sólidos en pasta, etc.
tresParámetros técnicos
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Campo de pruebas |
0,005—300 W/(m*K) |
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Rango de temperatura de medición |
Temperatura ambiente: 130 °C |
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Diámetro de la sonda |
Sonda n.° 1 de 7,5 mm; Sonda n.° 2 de 15 mm |
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Exactitud |
±3% |
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error de repetibilidad |
≤3% |
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medir el tiempo |
5~160 segundos |
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fuente de alimentación |
CA 220 V |
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Potencia total |
﹤500w |
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Aumento de la temperatura de la muestra |
﹤15℃ |
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Potencia de muestra de prueba P |
Sonda 1 potencia 0; Sonda 2 potencia 0 |
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Especificaciones de muestra |
Muestra única medida con la sonda n.º 1 (15 x 15 x 3,75 mm) Muestra única medida con la sonda n.º 2 (30 x 30 x 7,5 mm) |
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Nota: La sonda n.° 1 mide materiales delgados de baja conductividad (λ ≤ 0,2 W/(m*K)). Si la superficie de la muestra a medir es lisa y pegajosa, se puede apilar. |
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